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產品簡介
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單晶少子壽命測試儀 硅單晶非平衡少數載流子壽命測量儀
型號JC03-LT-3
特點:
該儀器參考美國A.S.T.M標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數載流子壽命；
測試單晶電阻率范圍：>0.3Ω.cm；
可測單晶少子壽命范圍：1μS-10000μS；
配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；
余輝<1μS；閃光頻率為：20-30次／秒；
前置放大器：放大倍數約25；
測量方式：采用對標準曲線讀數方式；
單晶少子壽命測試儀 硅單晶非平衡少數載流子壽命測量儀
型號JC03-LT-3
特點:
該儀器參考美國A.S.T.M標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數載流子壽命；
測試單晶電阻率范圍：>0.3Ω.cm；
可測單晶少子壽命范圍：1μS-10000μS；
配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；
余輝<1μS；閃光頻率為：20-30次／秒；
前置放大器：放大倍數約25；
測量方式：采用對標準曲線讀數方式；
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