單晶少子壽命測試儀

產(chǎn)品簡介

單晶少子壽命測試儀該儀器參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；測試單晶電阻率范圍：>0.3Ω.cm；

產(chǎn)品型號：JC03-LT-3

更新時間：2025-01-31

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問量：505

產(chǎn)品咨詢 15313095671

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

實驗室設(shè)備

制冷設(shè)備制樣/消解設(shè)備過濾器切割機(jī) 振蕩器搖床進(jìn)樣器閃點(diǎn)試驗器蒸餾設(shè)備粉碎機(jī) 瀝青檢測儀顯微鏡運(yùn)動粘度測定儀張力儀離心機(jī) 混合計數(shù) 研磨振篩機(jī) 攪拌器箱/爐粘度恒溫垂直度食品檢測儀清洗硬度計/光度計天平油品

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單晶少子壽命測試儀 硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測量儀

型號JC03-LT-3

特點(diǎn):

該儀器參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；

測試單晶電阻率范圍：>0.3Ω.cm；

可測單晶少子壽命范圍：1μS-10000μS；

配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；

余輝<1μS；閃光頻率為：20-30次／秒；

前置放大器：放大倍數(shù)約25；

測量方式：采用對標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式；

單晶少子壽命測試儀 硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測量儀

型號JC03-LT-3

特點(diǎn):

該儀器參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；

測試單晶電阻率范圍：>0.3Ω.cm；

可測單晶少子壽命范圍：1μS-10000μS；

配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；

余輝<1μS；閃光頻率為：20-30次／秒；

前置放大器：放大倍數(shù)約25；

測量方式：采用對標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式；

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單晶少子壽命測試儀該儀器參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；測試單晶電阻率范圍：>0.3Ω.cm；

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