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產(chǎn)品簡介
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硅片缺陷觀測儀 硅片劃痕崩邊測定儀 硅片位錯層錯檢測儀
型號JC06-WDI
硅片缺陷觀測儀于對硅片的缺陷進行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等。
實時對圖像進行分析、測量和統(tǒng)計，提高傳統(tǒng)光學儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備，能更好的觀測和保存研究結(jié)果；
硅片缺陷觀測儀-產(chǎn)品特點
適用于對硅片的缺陷觀察效果，非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等；
使硅片缺陷觀察工作簡單化，準確化，同時極大程度降低此項工作強度；
實時對圖像進行分析、測量和統(tǒng)計，提高傳統(tǒng)光學儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備，能更好的觀測和保存研究結(jié)果；
使用 1/2"CMOS 感光芯片，具有體積小，技術*，像素較高， 成像清晰 、線條細膩、色彩豐富；
傳輸接口為 USB2.0 高速接口， 軟件模塊化設計 ；
有效分辨率為 200 萬像素；
所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng)。
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